ACM SIGSOFT Empirical Standards
P. Ralph, Sebastian Baltes, D. Bianculli, Y. Dittrich, M. Felderer, R. Feldt, A. Filieri, Carlo A. Furia, D. Graziotin, Pinjia He, Rashina Hoda, N. Juristo, B. Kitchenham, R. Robbes, D. Méndez, J. Molléri, D. Spinellis, M. Staron, Klaas-Jan Stol, D. Tamburri, Marco Torchiano, Christoph Treude, Burak Turhan, S. Vegas
arXiv.org